國際電工委員會（IEC）正式發(fā)布《聲表面波器件用單晶晶片規(guī)范與測量方法》（IEC 62276:2025），首次明確了壓電材料的光學(xué)性能標(biāo)準(zhǔn)。三安濾波器晶體團(tuán)隊(duì)在關(guān)于透過率（晶片黑化程度）的相關(guān)技術(shù)要求和測量方法上做出重要貢獻(xiàn)。泉州三安集成依托三安光電的研發(fā)制造經(jīng)驗(yàn)，持續(xù)投入LN/LT壓電材料制備工藝的研發(fā)，在新標(biāo)準(zhǔn)論證過程中提出了多項(xiàng)技術(shù)性修改內(nèi)容，納入了新標(biāo)準(zhǔn)中主要的修訂內(nèi)容之一。（美通社）
